Иван Кулибин. Иван Ползунов. Ефим и Мирон Черепановы — Первый русский академик М.В. Ломоносов написал ставшие хрестоматийными строки о собственных «быстрых разумом Невтонах», которых может рождать Российская земля. Эти строки оказались провидческими.
Памятка работника — Цель брошюры дать людям информацию о трудовых отношениях . Хотите ли вы идти на работу? Какую работу вы хотите делать? Подходит ли вам сидячая работа или больше нравится работа подвижного характера? Работаете ли вы охотнее в одиночку или хотите общаться с людьми?
«Справочник гражданина», который вы держите в руках, представляет собой новую, пятую, редакцию издания, впервые вышедшего в свет в 2004 году. Мы внесли в него некоторые поправки в связи с изменившимися законами и дополнили новыми темами.
Ибн Сина. Авиценна — Автор этой книги — академик АМН СССР и действительный член Международной академии истории медицины — рассказывает о жизни и деятельности крупнейшего ученого эпохи восточного Ренессанса.
Нежные языки пламени. Лотос — Когда жених из знатного французского рода поставил Дашу Синицу перед фактом, что не станет жить в её скромной однокомнатной квартирке, ей пришлось переехать к нему. Сумка с книгами и переноска с котом – вот и всё, что Даша взяла с собой в новую жизнь.
Макияж — Эта книга — свод приемов, техник и практических знаний о макияже «для себя». Она представляет собой понятный и доступный гид по созданию личного алгоритма макияжа с учетом типа кожи, особенностей черт лица, идеи, цели и задачи конкретного макияжа.
«Машины и механизмы» — журнал для всех, кто интересуется устройством современного мира. Издание не ограничивается обзорами передовых технологий и последних изобретений. В сферу интересов «ММ» входят вопросы развития общества, новейшие социальные и даже геополитические тенденции.
Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий — В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы